賽特CAF測(cè)試 CAF失效分析 

CAF測(cè)試 CAF失效分析

PCB高密度的發(fā)展趨勢(shì)以及無(wú)鉛與無(wú)鹵的環(huán)保要求，越來(lái)越多的PCB出現(xiàn)了潤(rùn)濕不良、爆板、分層、CAF等等各種失效問(wèn)題。PCB失效機(jī)理與原因的獲 得將有利于將來(lái)對(duì)PCB的質(zhì)量控制，從而避免類似問(wèn)題的再度發(fā)生。賽特檢測(cè)工程技術(shù)人員在PCB/PCBA質(zhì)量評(píng)價(jià)、失效分析及UL認(rèn)證領(lǐng)域有多年的經(jīng)驗(yàn)，積累了大量的實(shí)際案例，為您提供一下檢測(cè)服務(wù)：

一、CAF測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

IPC-650-2.6.25

IPC 9691A

測(cè)試方法：IPC-TM-650 2.6.25  Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test: X-Y Axis

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容：

1）測(cè)試樣品要求：CAF測(cè)試板，參考IPC-TM-650 2.6.25 中列出的兩種圖形；---客戶提供樣品

2）標(biāo)準(zhǔn)中測(cè)試過(guò)程：

2.1 樣品前處理：排除樣品是否存在短路和開(kāi)路等明顯缺陷；清洗樣品（客戶有要求時(shí)），接線；105 ± 2 ℃烘烤6小時(shí)。---清洗依據(jù)IPC TM 650 2.3.25

2.2 測(cè)試總時(shí)間，高溫高濕（65℃/87+3/-2%RH，596H，偏壓：100VDC）。

1）測(cè)量初始絕緣電阻（測(cè)量電壓：100VDC，以下同）；

2）不加偏壓直接潮熱96H后，測(cè)試絕緣電阻；

3）加偏壓繼續(xù)潮熱500小時(shí)（共計(jì)596H）后測(cè)量絕緣電阻。試驗(yàn)結(jié)束后外觀檢查。

GB/T 4677.1-1984

測(cè)試方法：40℃/93%R.H.,電壓：10V、100 V、500V，時(shí)間：504小時(shí)，要求：＞1*108Ω

二、失效分析全面解決方案

PCB：潤(rùn)濕不良；分層；變色；漏電；開(kāi)路；短路等。

PCBA：潤(rùn)濕不良；焊點(diǎn)開(kāi)裂；掉件；器件失效；腐蝕等。

三、PCB測(cè)試與評(píng)估

• 外觀觀察 • 尺寸測(cè)量 • 可焊性

• 化學(xué)性能 • 電氣性能 • 離子清潔度測(cè)試

• 熱性能測(cè)試 • 環(huán)境適應(yīng)性 • 機(jī)械與物理性能

四、PCBA電子組件可靠性評(píng)估

• 外觀觀察 • 電遷移 • 抗拉/剪切強(qiáng)度

• 金相切片 • 環(huán)境試驗(yàn) • 錫須生長(zhǎng)及觀察

• X-ray檢查 • 染色滲透實(shí)驗(yàn)

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