顯微粒度檢測(cè)系統(tǒng) DLM-300C(全自動(dòng)顯微粒度分析儀）
概述：顆粒是在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。粒徑就是顆粒的直徑，一般以微米為單位。不同的方法將會(huì)給出不同的平均徑，一般來說平均徑的計(jì)算方法有以下幾種:
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| 顯微粒度檢測(cè)系統(tǒng) DLM-300C(全自動(dòng)顯微粒度分析儀） |
| 一：蔡康顆粒度檢測(cè)儀概述和顯微粒度檢測(cè)方法和應(yīng)用范圍： |
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（一）粒度分析方法： 顆粒是在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。粒徑就是顆粒的直徑，一般以微米為單位。不同的方法將會(huì)給出不同的平均徑，一般來說平均徑的計(jì)算方法有以下幾種: |
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由于實(shí)際顆粒的形狀通常并非為球形，因而常常采用等效徑的概念，即當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí)，采用該球形顆粒的直徑來代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑。由于全氟丙烷人血白蛋白微球幾乎全部為球形顆粒，可以認(rèn)為儀器測(cè)得的等效徑即為實(shí)際顆粒直徑。 粒度測(cè)試的基本方法有篩分法、顯微鏡（圖像）法、重力沉降法、離心沉降法、庫爾特（電阻）法、激光衍射／散射法、電鏡法、超聲波法，透氣法等。其優(yōu)缺點(diǎn)如下： 1．篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以下細(xì)的樣品，不能測(cè)定噴霧或乳劑等液體樣品； 2．顯微鏡法：所測(cè)的粒徑為等效投影面積徑，計(jì)算出的為長(zhǎng)度平均徑。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析，可以準(zhǔn)確得到球形度、長(zhǎng)徑比等特殊數(shù)據(jù)。缺點(diǎn)：代表性差，速度慢，無法測(cè)超細(xì)顆粒，不宜分析粒度范圍寬的樣品，只檢查相對(duì)較少的顆粒。這種方法只能作為質(zhì)量或生產(chǎn)控制的簡(jiǎn)單判斷方法。 3．沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：沉降法是根據(jù)不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測(cè)量粒度分布的一種方法。它的基本過程是把樣品放到某種液體中制成一定濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發(fā)生沉降。大顆粒的沉降速度較快，小顆粒的沉降速度較慢，沉降速度與粒徑的關(guān)系有Stokes定律來描述。 |
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所測(cè)的粒徑為等效沉速粒徑，優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，不能處理不同密度的樣品。結(jié)果受環(huán)境因素和人為因素影響較大。不能用于材料不沉淀的乳劑或者密度很高快速沉淀的材料。 4．庫爾特（電阻）法：所測(cè)的粒徑為等效電阻徑。其測(cè)定原理是電阻增量正比于顆粒體積，再將體積換算成圓球直徑。需要對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)來校準(zhǔn)儀器。優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒總數(shù)，統(tǒng)計(jì)出粒度分布，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：測(cè)試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。 5．激光衍射／散射法：這種方法應(yīng)該更準(zhǔn)確地稱為小角激光光散射（LALLS），依賴于最大光強(qiáng)衍射角與粒度成反比的事實(shí)。優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試范圍寬（最好的 激光粒度儀的測(cè)量范圍是0.04-2000um，一般的也能達(dá)到0.1-300um）， 測(cè)試速度快（1-3分鐘/次），自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)便，重復(fù)性和真實(shí)性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。可以測(cè)量混合粉、乳濁液和霧滴等。缺點(diǎn)：不宜測(cè)量粒度分布很窄的樣品，分辨率相對(duì)較低。結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高。不需要對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)來校準(zhǔn)儀器，實(shí)際上沒有真正的方法可以校準(zhǔn)激光衍射儀器。 6. 電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。 7. 超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨率較低。 8. 透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布。 不同原理的測(cè)定方法將會(huì)測(cè)量一個(gè)顆粒的不同的特性，如相同最小長(zhǎng)度的球體、相同最大長(zhǎng)度的球體、有相同沉降速度的球體、通過相同篩孔的球體、相同表面積的球體、相同體積的球體或者相同重量的球體，因而與另一種測(cè)量尺寸的方法得出的結(jié)果不同。對(duì)于一個(gè)單個(gè)顆粒可能存在的不同的等效結(jié)果。其實(shí)每一種結(jié)果都是正確的，差別僅在于它們分別表示該顆粒其中的某一特性。這就好像你我量同一個(gè)火柴盒，你量的是長(zhǎng)度，我量的是寬度，從而得到不同的結(jié)果一樣。由此可見， 只有使用相同的測(cè)量方法，我們才可能直接地比較粒度大小。 |
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1. DLM-300C顆粒圖像分析儀利用工業(yè)級(jí)彩色高速攝象器進(jìn)行圖像或者視頻采集，高倍蔡康光學(xué)顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于計(jì)算機(jī)，直接實(shí)時(shí)觀察顆粒形貌，利用專用軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理，形態(tài)統(tǒng)計(jì)分析。 2. 粒度測(cè)量范圍：0.5μm～5000μm 3. 接口方式：USB連接。 4. 平場(chǎng)消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)。 5. 供等面積和等周長(zhǎng)兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時(shí)提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長(zhǎng)徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。 6. 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度、亮度、對(duì)比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。 7. 儀器分二種型號(hào)，技術(shù)原理、參數(shù)都相同，DLM-200C型顆粒圖像分析儀配置高檔透射生物顯微鏡，DLM-300C型顆粒圖像分析儀配置高檔透反射金相顯微鏡，DLM-300C還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析或者金相平均晶粒度分析，也可以用于汽車表面鍍層顆粒均勻度分析。
8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等專用軟件。 1. 色調(diào)處理：負(fù)像、灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對(duì)比度調(diào)整； 2. 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時(shí)針)、90度(順時(shí)針) 、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小任意比例縮放等； 3. 測(cè)量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選； 4. 圖像增強(qiáng)：對(duì)比度均衡、膨脹、腐蝕等； 5. 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標(biāo)擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能；
6. 分析參數(shù)： （1）幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置，像素； |
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