測試儀
所有分類下結果便攜式戶外IV曲線測試儀 I-V曲線，P-V曲線
■主機與探頭之間采用無線連接，提供最大100米的無線通信連接功能，使您的測試更便捷、方便。
■提供擁有專利技術的探頭盒與溫度探頭安裝支架，能夠方便快速的將探頭安裝在電池板上。
■提供獨有的條碼掃描功能，實現組件智能識別。
■高亮、陽光下可視彩色液晶顯示，觸摸屏加鍵盤操作，包含豐富的外設接口，提供非同一般的操作體驗。機內存儲器可存儲超過2000幅測試波形，并內置SD卡插槽，支持存儲空間擴容。
■采用WINCE圖形系統，多國語言
[北京 儀器儀表]
進口無接觸硅片測試儀
[中介]產品介紹
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合ASTM(美國材料實驗協會)和Semi標準，確保與其他工藝儀器的兼容與統
太陽能電池量子效率測試儀
[中介]PH-IQE200為太陽能電池光譜響應測試，或稱量子效率QE（Quantum Efficiency）測試，或光電轉化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測試等，廣義來說，就是測量光
藍寶石圓度測試儀
[中介]RA2000是一種操作簡便的測量儀，用于對工件的幾何尺寸特別是圓度進行精確測量。此設備保證測量的準確性，為產品品質提供專業的保障。
無接觸體電阻率型號測試儀
[中介]產品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產品特點
■ 同時檢
硅片表面線痕深度測試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測試儀可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節能等優點，同時內置打印機和充電電池，所有設計均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標準。
原生多晶及硅芯型號測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號測量，型
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
